機台特色
IC封裝產品包括DIP(雙列直插式封裝)、SIP(單列直插式封裝)、SOP(小型封裝)、TSOP(薄小型封裝)、QFN(四方平面無引腳封裝)、BGA(球柵陣列封裝)、PGA(插針網格陣列封裝),而精細繁瑣的檢查作業能交由晶圓外觀檢查機替代人工檢測,大幅提升工作效能。

自動光學檢查機對於IC封裝產品的外觀檢查主要在本體引腳支架,且著重在檢出率。先聯科技有AOI+AI檢測方案能提升產品檢出率,將AOI與AI各自的專長結合進行檢測,讓檢出率最大提升。

  • 可檢測項目
  • 內裝規格
  • 選配功能
  • 軟體檢測畫面
  • 可檢測材料:各種規格的半導體晶片(QFN ; ODFN ; SMA ; LTCC…)及其他晶片型元件。
  • 可檢測尺寸:1mm~13mm*以實測為準
  • 可檢出異常:各種尺寸檢測、各種破損缺角檢測、各種文字圖形檢測;氣泡、漏銅、雜物、沾污、沾錫、電極破損、 線尾過長、漏焊、漏線、多(凸)膠、缺(凹)膠、溢膠、裂痕、連錫…;可依需求自由增減檢測項目。
  • 外觀檢測面:四 / 六 / 八面檢測(可任選站別,八面多二支CCD可檢測不同異常)
  • 速度:2000 pcs/min <30萬畫素>;1000 pcs/min <130萬畫素>;600 pcs/min <230萬畫素>
    (視材料尺寸及檢測項目而)
  • 收料盒數量:良品料盒(1), 不良品料盒(3/4 ), 重工料盒(1), 殘料盒(1)
  • 解 析 度:6μm/pixel(1206), 2.5μm/pixel(0402), 4μm/pixel(0603)。
    1~50, μm/pixel (視camera解析度及鏡頭倍率及晶片大小而定)
  • CCD:彩色高速 CCD 640*480 pixels;CCD 1280*960 pixels;CCD 1920*1200 pixels
  • 照 明:LED 燈泡(依材料供給不同光源)
  • 作業高度:約1100mm
  • 外觀顏色:象牙白
  • 電 源:1ϕ 220V 50 / 60Hz 1A
  • 尺 寸:102 X 102 X 180cm
  • 重 量:450kg
  • 主要控制器:PC / HMI / 振動盤控制器 / 前置面板
  • 語言顯示:中 / 英
  • 畫面顯示:PC:22"LED monitor;HMI:7"
  • 緊急停止:位於前置面板(按押式按鈕)
  • 備 份:裝設備份用硬碟乙個
震動盤開放式軌道
震動盤開放式軌道、無上蓋、無側蓋,快速供料不卡料
合格料盒
前置二個OK大料盒 可在滿料時自動切換 (機台不用停機)
光源差異
加二站可任選站別,架設不同光源抓取不同異常
AI檢測介面
AI 檢測 克服傳統演算法無法解決的難題

光學檢測瑕疵畫面